光纖OTDR測試的盲區是指什么？對測試會有何影響？在實際測試中對盲區如何處理？
 答：通常將諸如活動連接器、機械接頭等特征點產生反射引起的OTDR接收端飽和而帶來的一系列“盲點”稱為盲區。
光纖中的盲區分為事件盲區和衰減盲區兩種：由于介入活動連接器而引起反射峰，從反射峰的起始點到接收器飽和峰值之間的長度距離，被稱為事件盲區；光纖中由于介入活動連接器引起反射峰，從反射峰的起始點到可識別其他事件點之間的距離，被稱為衰減盲區。
對于OTDR來說，盲區越小越好。盲區會隨著脈沖展寬的寬度的增加而增大，增加脈沖寬度雖然增加了測量長度，但也增大了測量盲區，所以，在測試光纖時，對OTDR附件的光纖和相鄰事件點的測量要使用窄脈沖，而對光纖遠端進行測量時要使用寬脈沖。